На конференции в МИЭМ представили новейшую измерительную технику
3 апреля состоялся первый международный симпозиум «Компьютерные измерительные технологии», организованный МИЭМ НИУ ВШЭ и компанией National Instruments.
Понедельник, 25 августа
Мастер-класс Центра дополнительного профессионального образования: «Ошибки в ВЭД: цена невнимательности в контракте»
3 апреля состоялся первый международный симпозиум «Компьютерные измерительные технологии», организованный МИЭМ НИУ ВШЭ и компанией National Instruments.
Заявки - до 20 июня